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                EDX8800E-X熒光光譜儀

                型號(hào):

                產(chǎn)品時(shí)間:2024-08-30

                簡(jiǎn)要描述:

                EDX8800E-X熒光光譜儀規(guī)格:1.元素分析范圍:鈉-鈾(NA-鈾)抽真空2.元素含量分析范圍:1PPM~99.99%3.Z低檢出限:1PPM

                產(chǎn)品目錄

                Product catalog

                詳細(xì)介紹

                EDX8800EX熒光光譜儀規(guī)格:

                1.元素分析范圍:鈉-鈾(NA-U)抽真空

                2.元素含量分析范圍:1PPM~99.99%

                3.zui低檢出限:1PPM

                4.能量分辨率129±5ev

                5.樣品腔尺寸:520*310*120(MM)

                6.多次量測(cè)重復(fù)性(以標(biāo)準(zhǔn)樣品為準(zhǔn)):±0.05%(高含量)

                                                                        ±0.002%(微量)

                 長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性(以標(biāo)準(zhǔn)樣品為準(zhǔn)):±0.05%(高含量)


                                                                        ±0.0025%(微量


                EDX8800EX熒光光譜儀應(yīng)用區(qū)域

                1.ROHS\無(wú)鹵檢測(cè)指令

                  CD <100   PB<1000

                  HG <1000 Cr6 <1000

                  PBBS <1000

                 PBDEs <1000

                2.合金分析領(lǐng)域

                   銅合金 不銹鋼 AL 鍍層

                3.包裝指令檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)(94/62/EC)

                   CD PB Hg Cr6 <100

                4.玩具指令檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

                    EN71-3

                5 .鍍層成分分析

                    鍍層厚度分析

                    鍍層環(huán)保檢測(cè) 

                 

                產(chǎn)品咨詢

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