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                測(cè)鍍層X熒光光譜儀

                型號(hào):TRF5000

                產(chǎn)品時(shí)間:2024-08-30

                簡(jiǎn)要描述:

                測(cè)鍍層X熒光光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域:鍍層成分分析鍍層厚度分析鍍層環(huán)保檢測(cè)

                產(chǎn)品目錄

                Product catalog

                詳細(xì)介紹

                  測(cè)鍍層X熒光光譜儀 規(guī)格:

                1.元素分析范圍:硫-鈾(S-U)

                2.元素含量分析范圍:1PPM~99.99%

                3.zui低檢出限:1PPM

                4.鍍層檢驗(yàn)厚度:0.005-50μm(視材料類型而有所不同)

                5.樣品腔尺寸:150*120*50(MM)

                 

                測(cè)鍍層X熒光光譜儀 應(yīng)用領(lǐng)域:

                 

                鍍層成分分析

                鍍層厚度分析

                鍍層環(huán)保檢測(cè)  

                 

                產(chǎn)品咨詢

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